Por: CLARISSE DA COSTA RUFINO (INSTITUTO MILITAR DE ENGENHARIA), IASMIN CAMARGO MATHIAS (INSTITUTO MILITAR DE ENGENHARIA), TALITA GAMA DE SOUSA (INSTITUTO MILITAR DE ENGENHARIA), LUIZ PAULO MENDONÇA BRANDÃO (INSTITUTO MILITAR DE ENGENHARIA)
Resumo:
O desenvolvimento de métodos de análise microestrutural, principalmente os não destrutivos, para avaliação das propriedades mecânicas, físicas e químicas se torna fundamental conforme cresce a demanda por novos materiais. O objetivo deste trabalho é correlacionar a evolução microestrutural, mais especificamente o tamanho de grão, com a condutividade elétrica. Com o intuito de buscar essa correlação, medidas de condutividade elétrica foram medidas de amostras de aço livre de intersticiais (IF) com distintos tamanhos de grãos: uma amostra 85% laminada (AL) e quatro amostras tratadas termicamente a 950 °C com tempos de duração de 150 segundos, 10, 30 e 60 minutos. Para a análise microestrutural foi utilizado um microscópio óptico e para as medidas de condutividade elétrica uma sonda de 4 pontas. Os resultados obtidos com o microscópio óptico revelaram microestruturas com grãos deformados para a amostra laminada, e para as amostras submetidas a tratamento térmico, revelaram grãos equiaxiais. Além disso, pode-se aferir que o tamanho de grão só vai influenciar na condutividade elétrica quando esse for pequeno e que para tamanhos de grãos maiores a condutividade permanecerá relativamente constante.